>> 儀器介紹 :RG-N60A型直讀光譜儀,采用快速讀出系統、特殊設計的光學系統、獨特的校正系統、高性能CCD檢測模塊,比以往更快速、更準確確的端金屬分析技術。運營成本低,安全可靠。廣泛應用于冶金、鑄造、機械、金屬加工等領域的生產過程控制、中心實驗室成品檢測,可用于Fe 、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag等多種金屬及其合金樣品分析。 >> 儀器特點 ?采用多個CCD對可用范圍內的光譜譜線進行全譜掃描
?添加通道更加便捷,只需軟件開通通道即可。
?特殊設計的火花臺氣流,大大減少了氣消耗和維護工作
?創新的光學系統和新型讀出系統提高了分析精度
?USB采集,通用性更強
?中文操作界面,更加方便、易操作
?外形尺寸及重量長700mm,光譜儀維修,寬800mm,高1170mm;重量約150kg。
>>技術配置: 真空光學系統: ·帕邢-龍格架法 ·光柵焦距600mm ·高發光全息光柵,
刻線為2700條/mm ·譜線范圍:180-650nm ·色散率: 一級色散率:0.55nm/mm;
二級色散率:0.275nm/mm ·分辨率:優于0.01nm ·不限檢測通道 ·檢測器由多塊CCD模塊組成 火花臺: ·160 X 120mm大尺寸火花臺; ·安全防護設備阻止不安全激發 ·全新設計的共軸火花臺,采用優化的內部氣路,有效降低氣的消耗量 ·一體式透鏡隔離閥,易于更換 ?優化的紫外光路設計 ?易于更換的火花臺板 ?監控系統及溫控系統: ?系統實時控制并顯示儀器的所有運行狀態,操作簡單快捷。 ?光室、電子單元、火花獨立恒溫系統,避免了溫度波動對儀器穩定性的影響。 ?特有的兩級全自動恒溫系統,減少了系統預熱時間,提高了儀器的穩定性。 火花激發源: ?下線氣消耗設計 ?火花源放電穩定,不受供電系統波動的影響 ?光源頻率能量等參數連續可調 ?放電頻率:50-600Hz ?上線火花功率:4千瓦 ?積分采集: ? 單火花數據采集,提高儀器分析精度。 ? 積分技術,分析各通道可采用不同的積分,達到積分時間的匹配,提高儀器分析精度。 ? USB數據采集方式,數據傳輸穩定,對電腦的要求低。 ? 多線程的數據采集方式,提高軟件的穩定性,數據的可靠性 真空系統: ?采用全新的鑄造光室,熱膨脹系數極低,儀器的穩定性高 ?真空由真空泵和真空控制設備控制 分析軟件: ? 包括不同基體不同曲線的計算 ? 全中文分析軟件,方便用戶操作 ? 智能邏輯校正 ? 基體校正 ?? 手動平均值的計算、回到單次值分析結果 ??遠程打印機和/或終端的結果傳輸
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1、儀器一定要有良好的使用環境
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣,需要在一定的環境下運行,失去這些條件,六盤水光譜儀,不僅儀器的使用效果不好,而且改變儀器的檢測性能,甚至造成損壞,縮短壽命。根據光學儀器的特點,對環境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大,光學元件受溫度變化的影響就會產生譜線漂移,造成測定數據不穩定,一般室溫要求維持在20~25攝氏度間的一個固定溫度,溫度變化應小于±1攝氏度。而環境濕度過大,光學元件,特別是光柵容易受潮損壞或性能降低。電子系統,尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞。濕度對高頻發生器的影響也十分重要,濕度過大,輕則等離子體不容易點燃,重則高壓電源及高壓電路放毀元件,如功率管隔直陶瓷電容擊穿,輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等,以至損壞高頻發生器。一般室內濕度應小于百分之70,控制在百分之45~60之間,應有空氣凈化裝置。過去由于基建施工,我們的環境條件很差,甚至儀器室多次被水淹,受潮及室溫變化過大,儀器不是定位困難就是經常發生故障。搬到新的儀器室后條件改善了,儀器運行就正常多了。
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根據現代光譜儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經典光譜儀和新型光譜儀.經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型光譜儀器是建立在調制原理上的儀器.經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器.調制光譜儀是非空間分光的,它采用圓孔進光.根據色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲諸功能于一體.由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測量工作,使傳統的光譜技術發生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率;使用OMA分析光譜,測量準確迅速,方便,且靈敏度高,響應時間快,光譜分辨率高,測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機,繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應于對微弱信號,瞬變信號的檢測.
構成
如圖1-1所示 一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分:1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。3. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,光譜儀用途,其中每一像點對應于一特定波長。5. 探測器陣列:放置于焦平面,用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
透射測定
光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定。在可見和近紫外實現這些測量沒有任何困難。測量通過個單色儀的光通量,緊接著測量通過兩個單色儀的光通量,以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。測量需要知道單色儀的透射率:對于相對測量,光譜儀原理,以各種波長處的相對單位可以測量透射率。真空紫外線的這些測量有相當大的實驗困難,因此通常使用輔助單色儀。在各種入射角的情況下分別測量衍射光柵的效率。在許多實驗步驟中已成功地避免了校準上的困難。曾經研究過光柵效率與波長、入射角、鍍層厚度、鍍層材料以及其它因素的關系。所有這些測量都指出,在許多情況下能量損失是非常顯著的,并且光柵的效率低于1%,光柵的不同部分可能有明顯不同的效率。原子吸收光譜儀
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